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太陽能級(jí)鑄造多晶硅塊檢測項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測周期???樣品要求? |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽能電池用多晶硅片(以下簡稱硅片)的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存、質(zhì)量證明書及訂貨單(或合同)內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于太陽能電池用鑄造多晶硅片(包括類單晶硅片)。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽能級(jí)多晶硅錠、硅片的晶體缺陷密度測定方法,包含方法概要、試劑和材料、儀器和設(shè)備、試樣制備、測試步驟、數(shù)據(jù)處理、精密度、干擾因素和報(bào)告。本標(biāo)準(zhǔn)適用于太陽能級(jí)多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度的測定。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用激光法非接觸式測量方形硅晶錠尺寸的方法,包括對(duì)角線、倒角、垂直度、邊長和長度。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體及光伏領(lǐng)域硅單晶棒或多晶硅鑄錠切割成的方形硅晶錠尺寸的測量。
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