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半導體集成電路失效分析檢測

發布日期： 2024-06-21 17:34:53 - 更新時間：2024年06月29日 15:22

半導體集成電路失效分析檢測項目報價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

GB/T 4589.1-2006半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規范

本規范構成電工委員會電子元器件質量評定體系（IECQ）的一部分。本規范是半導體器件（分立器件和集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路）的總規范。本規范規定了在IECQ體系內采用的質量評定的總程序，并給出了下述方面的總原則： ——電特性測試方法； ——氣候和機械試驗； ——耐久性試驗。

GB/T 4937.17-2018半導體器件機械和氣候試驗方法第17部分:中子輻照

GB/T 4937的本部分是為了測定半導體器件在中子環境中性能退化的敏感性。本部分適用于集成電路和半導體分立器件。中子輻照主要針對軍事或空間相關的應用，是一種破壞性試驗。試驗目的如下：a)　檢測和測量半導體器件關鍵參數的退化與中子注量的關系；b)　確定規定的半導體器件參數在接受規定水平的中子注量輻射之后是否在規定的極限值之內(見第4章)。

GB/T 4937.30-2018半導體器件機械和氣候試驗方法第30部分:非密封表面安裝器件在可靠性試驗前的預處理

GB/T 4937的本部分規定了非密封表面安裝器件(SMDs)在可靠性試驗前預處理的標準程序。本部分規定了SMDs的預處理流程。SMDs在進行規定的室內可靠性試驗(鑒定/可靠性監測)前，需按本部分所規定的流程進行適當的預處理，以評估器件的長期可靠性(受焊接應力的影響)。

GB/T 4937.201-2018半導體器件機械和氣候試驗方法第20-1部分:對潮濕和焊接熱綜合影響敏感的表面安裝器件的操作、包裝、標志和運輸

GB/T 4937的本部分適用于采用再流焊工藝和暴露于大氣環境中的所有非氣密封裝表面安裝器件(SMD)。本部分的目的是為SMD承制方和用戶提供按照IEC 60749-20中規定進行等級分類的潮濕、再流焊敏感的SMDs的操作、包裝、運輸和使用的標準方法。提供的這些方法是為了避免因吸收濕氣和暴露于再流焊的高溫下造成的損傷，這些損傷會造成成品率和可靠性的降低。通過這些程序的應用，實現安全無損的再流焊，元器件通過干燥包裝，提供從密封之日起保存于密封干燥袋內的包裝內壽命。IEC 60749-20耐焊接熱試驗中規定了兩種水汽浸漬試驗方法，方法A和方法B。方法A，是在假設防潮袋內相對濕度小于30%的前提下規定的。方法B，是在假設承制方暴露時間(MET)不超過24 h，且防潮袋內相對濕度小于10%的前提下規定的。在實際操作環境中，使用方法A的SMDs允許吸收濕氣達到30%RH，使用方法B的SMDs允許吸收濕氣達到10%RH。本部分規定了在上述試驗條件下SMDs的操作條件。

GB/T 15969.6-2015可編程序控制器第6部分:功能安全

GB/T 15969的本部分規定了對GB/T 15969.1定義的可編程序控制器(PLC)及其相關的外圍設備的要求，其目的是用作電氣/電子/可編程電子(E/E/PE)安全相關系統的邏輯子系統。符合本部分要求的可編程序控制器及其相關的外圍設備認為是適用于E/E/PE安全相關系統的，稱為功能安全可編程序邏輯控制器(FS-PLC)。FS-PLC通常是硬件(HW)/軟件(SW)子系統。FS-PLC也可包含軟件組件，如預定義的功能塊。E/E/PE安全相關系統通常包含傳感器、執行器、軟件和邏輯子系統。本部分是IEC 61508標準要求的產品特定實現，符合本部分就符合IEC 61508標準關于FS-PLC的所有適用的要求。IEC 61508標準是系統標準，而本部分為IEC 61508標準的原則在FS-PLC中的應用，提供了產品特定要求。當FS-PLC用作E/E/PE安全相關系統的一部分時，本部分僅處理FS-PLC的功能安全和安全完整性要求。整體E/E/PE安全相關系統的功能安全要求和E/E/PE安全相關系統的終應用的功能安全要求的定義不在本部分包含的范圍內，但它們是本部分的輸入。對于應用特定信息，讀者可參考其他標準，如 GB/T 21109 標準、GB 28526 和GB/T 16855 標準。本部分不包括FS-PLC的通用安全要求，如與GB/T 15969.2規定的電擊和火災危險相關的要求。本部分適用于安全完整性等級(SIL)能力不高于SIL 3的FS-PLC。本部分的目的是：a) 建立和描述FS-PLC的安全生命周期組件，與IEC 61508-1~IEC 61508-3標識的通用安全生命周期一致；b) 建立和描述關于E/E/PE安全相關系統的功能安全和安全完整性要求的FS-PLC硬件和軟件要求；c) 建立對FS-PLC的評估方法，依據本部分如下參數/準則：1) FS-PLC能夠達到的安全完整性等級(SIL)聲明;2) 要求時失效概率(PFD)值；3) 每小時危險失效平均頻率(PFH)值；4) 安全失效分數(SFF)值；5) 硬件故障裕度(HFT)值；6) 診斷覆蓋率(DC)值；7) 驗證規定的FS-PLC制造商的安全生命周期過程已就位；8) 定義的安全狀態；9) 用于預防和控制系統性故障的措施和技術；10) 對于本部分處理的各失效模式，失效狀態下的功能行為。d) 建立定義并標識FS-PLC及其相關的外圍設備的選擇和應用相關的主要特性。本部分主要用于FS-PLC制造商。通過用戶文檔要求，本部分也包含了 FS-PLC用戶的關鍵角色。一些FS-PLC的用戶指南可見GB/T 15969.4。由于ISO/IEC Guide 51和IEC Guide 104的要求和本部分相關，所以也包含在這里。

GB/T 16855.2-2015機械安全控制系統安全相關部件第2部分:確認

本部分規定了通過分析和測試確認以下參數時需遵循的程序和條件：——規定的安全功能；——按照GB/T 16855.1設計的控制系統安全相關部件(SRP/CS)達到的類別；——按照GB/T 16855.1設計的控制系統安全相關部件(SRP/CS)達到的性能等級。

GB 16899-2011自動扶梯和自動人行道的制造與安裝安全規范

本標準適用于新制造的自動扶梯和踏板式或膠帶式自動人行道(見第3章)。本標準考慮了按照預期目的使用并在制造商可預見的誤用情況下,與自動扶梯和自動人行道相關的所有重大危險、危險狀態和事件(見第4章)。本標準未考慮因地震引起的危險。本標準不適用于本標準實施前制造的自動扶梯和自動人行道。

GB/T 20438.2-2017電氣/電子/可編程電子安全相關系統的功能安全第2部分:電氣/電子/可編程電子安全相關系統的要求

GB/T 20438的本部分a)　在使用前，應充分理解GB/T 20438.1，GB/T 20438.1提供了實現功能安全的總體框架；b)　適用于GB/T 20438.1定義的安全相關系統，安全相關系統至少包含一種電氣、電子或可編程電子組件；c)　適用于E/E/PE安全相關系統中的所有組件(包括傳感器、執行器和操作員界面)；d)　規定了如何按照GB/T 20438.1定義的E/E/PE系統安全要求規范(由E/E/PE系統安全功能要求規范和E/E/PE系統安全完整性要求規范組成)，開發出E/E/PE系統設計要求規范；e)　規定了在E/E/PE安全相關系統的設計和制造過程中(即建立E/E/PE系統安全生命周期模型)除軟件外所進行活動的要求，軟件要求在GB/T 20438.3(見圖2~圖4)中給出；這些要求包含了用以避免和控制故障和失效發生的技術和措施的應用，并被劃分成與安全完整性等級相對應的不同等級；f)　規定了執行E/E/PE安全相關系統的安裝、調試以及終安全確認所需的信息；g)　不適用于E/E/PE安全相關系統的運行和維護階段，這方面內容在GB/T 20438.1中給出。但是，本部分為用戶提供了有關E/E/PE安全相關系統的運行和維護所需的信息和規程的準備要求；h)　規定了對E/E/PE安全相關系統進行各種修改的各方應滿足的要求；i)　不適用于符合IEC 60601的醫療設備。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4是基礎的安全標準，雖然它不是針對低復雜的E/E/PE安全相關系統(見GB/T 20438.4—2017的3.4.3)，但作為基礎安全標準，各技術委員會可以在IEC指南104和ISO/IEC指南51的指導下制定相關標準時使用。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4也可作為獨立標準來使用。GB/T 20438的橫向安全功能不適用于在IEC 60601系列指導下的醫療設備。各技術委員會的責任之一，是在其標準的起草工作中盡可能使用基礎的安全標準。在本部分中，本基礎安全標準中的要求、測試方法或測試條件只有在這些技術委員會起草的標準中已明確引用或包含時適用。圖1表示了GB/T 20438的整體框架，同時指出了本部分在實現E/E/PE安全相關系統的功能安全過程中的作用。GB/T 20438.6—2017的附錄A詳述了GB/T 20438.2和GB/T 20438.3的應用。

GB/T 20438.7-2017電氣/電子/可編程電子安全相關系統的功能安全第7部分:技術和措施概述

GB/T 20438的本部分包含了GB/T 20438.2和GB/T 20438.3有關的各種安全技術和措施的概述。參考文獻僅作為各種方法和工具或示例的基本參考，不一定代表當前技術水平。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4是基礎的安全標準，雖然它不適用于低復雜的E/E/PE安全相關系統(見GB/T 20438.4—2017的3.4.3)，但作為基礎安全標準，各技術委員會可以在IEC指南104和ISO/IEC指南51的指導下制定相關標準時使用。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4也可作為獨立標準來使用。GB/T 20438的橫向安全功能不適用于在IEC 60601系列指導下的醫療設備。各技術委員會的責任之一，是在其標準的起草工作中盡可能使用基礎的安全標準。在本部分中，本基礎安全標準中的要求、測試方法或測試條件只有在這些技術委員會起草的標準中已明確引用或包含時適用。圖1表示了GB/T 20438的整體框架，同時明確了本部分在實現E/E/PE安全相關系統功能安全過程中的作用。

GB/T 20515-2006半導體器件集成電路第5部分:半定制集成電路

本標準規了下列集成電路（IC）分類體系樹（見圖1）中有關半定制集成電路子類的標準。

GB/T 29308-2012核電廠安全重要儀表和控制系統老化管理要求

本標準規定了核電廠安全重要儀表和控制（I&C）系統及相關設備的老化管理的原則、技術要求和建議。本標準適用于各種類型的核電廠。

GB/T 34095-2017信息安全技術用于電子支付的基于近距離無線通信的移動終端安全技術要求

本標準規定了基于近距離無線通信的移動終端電子支付的智能卡和內置安全單元安全技術要求，內容包括評估對象(TOE)定義、安全問題定義、安全目的描述、安全要求描述等。本標準適用于基于近距離通信技術、支持電子支付業務的載有智能卡或內置安全單元的移動終端電子設備。

GB/T 34954.1-2017航空電子過程管理電子器件使用性能第1部分:溫度升額

GB/T 34954的本部分規定了超出制造商規定溫度范圍時半導體器件的使用要求。在器件使用過程中,如果無適合備選器件可用時,則依據本部分規定條款進行升額,否則器件應在器件手冊規定的條件下使用。術語“升額”逐漸使用于航空電子工業討論及會議中,其明確的定義參見第3章。升額是器件選擇用于電路設計中的特殊方法。本部分規定了器件升額方法及流程。本部分所有方法及流程均采用現行的、工程應用優方法。總體使用要求若無更嚴苛的規定,在使用中應嚴格執行本過程。在更寬溫度范圍內使用器件,特別是尺寸非常小的器件(例如:特征尺寸為≤90 nm)的前提條件是不影響其使用過程中性能參數及可靠性。本部分不允許器件在超出原始器件制造商規定的絕對大額定值之外使用器件,本部分同時規定:——只有當無其他合適備選器件可角時,器件可用于原始器件制造商規定的溫度范圍外,替代時應做驗證;——如果需要在原始器件制造商規定的溫度范圍外使用器件,則應形成記錄文件及控制流程以保證設備完整。

GB/T 34987-2017威布爾分析

本標準提供了利用連續變量(失效時間、失效里程或機械應力等)分析威布爾數據的方法。本標準適用于隨機樣本在試驗條件或工作條件下得到的有效失效數據(如失效時間、失效里程或機械應力等)，其目的是估計總體的可靠性水平。本標準適用于獨立同分布數據。獨立同分布需要檢驗或假定成立(見GB/T 5080.1)。本標準采用數值法與圖估法進行數據點繪制、擬合優度檢驗、估計二參數或三參數威布爾分布并繪制置信限；本標準給出利用威布爾概率圖來解釋樣品的風險函數，失效模式，劣質總體樣本和首次失效時間或短持續時間等信息的方法。

GB/T 36356-2018功率半導體發光二極管芯片技術規范

本標準規定了功率半導體發光二極管芯片產品(以下簡稱芯片)的技術要求、檢驗方法、檢驗規則、包裝、運輸和儲存等。本標準適用于功率半導體發光二極管芯片。

GB/T 36357-2018中功率半導體發光二極管芯片技術規范

本標準規定了中功率半導體發光二極管芯片產品(以下簡稱芯片)的技術要求、檢驗方法、檢驗規則、包裝、運輸和儲存等。本標準適用于中功率半導體發光二極管芯片。

GB/T 37079-2018設備可靠性可靠性評估方法

本標準描述了在產品早期階段實施的可靠性評估方法，主要是基于元件和模塊現場使用和試驗數據進行。適用于需要執行關鍵任務，安全性要求高，商業價值大，集成度和復雜度高的產品。本標準包含以下信息：開展早期可靠性評估的原因、實施程序和應用場合。后，標準詳細介紹了開展可靠性評估的方法以及用于可靠性評估的必備數據，同時采用了基于失效物理的方法來評估產品的耐久性(壽命或者耗損)。本標準詳細討論了三種可靠性評估方法：——相似性分析法；——耐久性分析法；——數據手冊預計法。