半導體分立器件失效分析檢測

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GB/T 4589.1-2006半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規范

本規范構成電工委員會電子元器件質量評定體系（IECQ）的一部分。 本規范是半導體器件（分立器件和集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路）的總規范。 本規范規定了在IECQ體系內采用的質量評定的總程序，并給出了下述方面的總原則： ——電特性測試方法； ——氣候和機械試驗； ——耐久性試驗。

GB/T 4937.17-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第17部分:中子輻照

GB/T 4937的本部分是為了測定半導體器件在中子環境中性能退化的敏感性。本部分適用于集成電路和半導體分立器件。中子輻照主要針對軍事或空間相關的應用，是一種破壞性試驗。試驗目的如下：a)　檢測和測量半導體器件關鍵參數的退化與中子注量的關系；b)　確定規定的半導體器件參數在接受規定水平的中子注量輻射之后是否在規定的極限值之內(見第4章)。

GB 16899-2011自動扶梯和自動人行道的制造與安裝安全規范

本標準適用于新制造的自動扶梯和踏板式或膠帶式自動人行道(見第3章)。 本標準考慮了按照預期目的使用并在制造商可預見的誤用情況下,與自動扶梯和自動人行道相關的所有重大危險、危險狀態和事件(見第4章)。 本標準未考慮因地震引起的危險。 本標準不適用于本標準實施前制造的自動扶梯和自動人行道。

GB/T 20438.7-2017電氣/電子/可編程電子安全相關系統的功能安全 第7部分:技術和措施概述

GB/T 20438的本部分包含了GB/T 20438.2和GB/T 20438.3有關的各種安全技術和措施的概述。參考文獻僅作為各種方法和工具或示例的基本參考，不一定代表當前技術水平。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4是基礎的安全標準，雖然它不適用于低復雜的E/E/PE安全相關系統(見GB/T 20438.4—2017的3.4.3)，但作為基礎安全標準，各技術委員會可以在IEC指南104和ISO/IEC指南51的指導下制定相關標準時使用。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4也可作為獨立標準來使用。GB/T 20438的橫向安全功能不適用于在IEC 60601系列指導下的醫療設備。各技術委員會的責任之一，是在其標準的起草工作中盡可能使用基礎的安全標準。在本部分中，本基礎安全標準中的要求、測試方法或測試條件只有在這些技術委員會起草的標準中已明確引用或包含時適用。圖1表示了GB/T 20438的整體框架，同時明確了本部分在實現E/E/PE安全相關系統功能安全過程中的作用。

GB/T 20515-2006半導體器件 集成電路 第5部分:半定制集成電路

本標準規了下列集成電路（IC）分類體系樹（見圖1）中有關半定制集成電路子類的標準。

GB/T 32872-2016空間科學照明用LED篩選規范

本標準規定了空間科學照明用LED(Light Emitting Diode)篩選項目和程序、篩選方法、參數測量和合格判定。本標準適用于空間科學照明用額定功率1 W和1 W以上封裝的單芯LED的篩選，其他功率級別的LED也可參照執行。

GB/T 36356-2018功率半導體發光二極管芯片技術規范

本標準規定了功率半導體發光二極管芯片產品(以下簡稱芯片)的技術要求、檢驗方法、檢驗規則、包裝、運輸和儲存等。本標準適用于功率半導體發光二極管芯片。

GB/T 36357-2018中功率半導體發光二極管芯片技術規范

本標準規定了中功率半導體發光二極管芯片產品(以下簡稱芯片)的技術要求、檢驗方法、檢驗規則、包裝、運輸和儲存等。本標準適用于中功率半導體發光二極管芯片。

GB/T 37079-2018設備可靠性 可靠性評估方法

本標準描述了在產品早期階段實施的可靠性評估方法，主要是基于元件和模塊現場使用和試驗數據進行。適用于需要執行關鍵任務，安全性要求高，商業價值大，集成度和復雜度高的產品。本標準包含以下信息：開展早期可靠性評估的原因、實施程序和應用場合。后，標準詳細介紹了開展可靠性評估的方法以及用于可靠性評估的必備數據，同時采用了基于失效物理的方法來評估產品的耐久性(壽命或者耗損)。本標準詳細討論了三種可靠性評估方法：——相似性分析法；——耐久性分析法；——數據手冊預計法。

QJ 1317A-2005電子元器件失效分類及代碼

本標準規定了航天產品用電子元器件失效分類及其代碼。本標準適用于航天產品研制過程中電子元器件失效信息的管理系統。在研制或管理航天用電子元器件工作中亦可參照使用。

QJ 1556B-2008元器件質量與可靠性信息采集卡填寫規定

本標準規定了航天用電氣、電子和機電元器件（以下簡稱元器件）質量與可靠性信息采集卡的格式和填寫要求。本標準適用于元器件保證全過程主要質量與可靠性信息的采集。

QJ 2227A-2005航天元器件有效貯存期和超期復驗要求

本標準規定了航天產品用電氣、電子和機電元器件(以下簡稱元器件)在規定的環境條件下貯存的期限(有效貯存期)；以及超過有效貯存期，在裝機前應通過的檢驗方法和條件。本標準主要適用于國產元器件，對于未列入本標準的國產元器件亦可參照與該類元器件有相同或相似特征(如制造工藝、結構特點等)的列入本標準的元器件使用。