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電離室和(或)半導(dǎo)體探測(cè)器劑量計(jì)檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測(cè)周期???樣品要求? |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用硫酸亞鐵酸性水溶液劑量測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量電離輻射水中吸收劑量的制備方法和測(cè)試程序。該系統(tǒng)又稱為Fricke劑量測(cè)量系統(tǒng),由劑量計(jì)和相關(guān)的分析儀器組成。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用分光光度法測(cè)定Fricke劑量計(jì)的程序。本標(biāo)準(zhǔn)適用于γ射線、X射線(軔致輻射)和高能電子束吸收劑量的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在下述條件下測(cè)量吸收劑量的Fricke劑量計(jì)劑量測(cè)量系統(tǒng):吸收劑量范圍:20Gy~400Gy。吸收劑量率:≤10<上標(biāo) 6>Gy?s<上標(biāo) -1>。輻射能量:γ射線源的初始光子能量應(yīng)大于0.6MeV;對(duì)于X射線(軔致輻射),用于產(chǎn)生光子的電子初始能量應(yīng)等于或大于2.0MeV;對(duì)于電子束,電子的初始能量應(yīng)不小于8.0MeV(見ICRU 34和35號(hào)報(bào)告)。劑量計(jì)的輻照溫度:10℃~60℃。本標(biāo)準(zhǔn)不涉及與使用相關(guān)的安全問題(如果存在)。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者負(fù)責(zé)建立適用的安全和健康標(biāo)準(zhǔn),并在使用前確定其適用的限制范圍。
本部分規(guī)定了核儀器技術(shù)領(lǐng)域用術(shù)語(yǔ)和定義。本部分適用于涉及核儀器:物理現(xiàn)象、基本概念、儀器、系統(tǒng)、設(shè)備和探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域。
本標(biāo)準(zhǔn)給出了聲學(xué)和有關(guān)聲學(xué)的常用的和基礎(chǔ)的名詞和術(shù)語(yǔ)。 本標(biāo)準(zhǔn)給出的聲學(xué)術(shù)語(yǔ)共有914條,分成十三章(第2-14章)。當(dāng)一術(shù)語(yǔ)具有兩個(gè)或兩個(gè)以上不同性質(zhì)的定義時(shí),則用a,b,c分行并列敘述。附錄A為漢英聲學(xué)名詞,按漢語(yǔ)拼音字母次序排列,此附錄同時(shí)作為聲學(xué)術(shù)語(yǔ)的漢文索引。附錄B為英漢聲學(xué)名詞,按英文字母次序排列,也作為聲學(xué)術(shù)語(yǔ)的英文索引。 本標(biāo)準(zhǔn)聲學(xué)術(shù)語(yǔ)中所列的名詞(漢文或英文),當(dāng)有兩個(gè)或兩個(gè)以上的同義詞時(shí),對(duì)于未加區(qū)別的名詞,表示這些名詞的地位是同等的,均可使用。對(duì)圓括號(hào)()里的名詞,一般表示過去曾用過的名詞,現(xiàn)在仍可使用,但本標(biāo)準(zhǔn)不作推薦。方括號(hào)[]里的字表示可以省略。定義中圓括號(hào)()里的字一般是注釋。名詞中的花括號(hào){}表示主要根據(jù)所列學(xué)科的規(guī)定。斜體表示拼音。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電離輻射探測(cè)器用的主放大器(成形放大器)和電荷靈敏前置放大器的測(cè)試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體探測(cè)器、氣體脈沖電離室、正比探測(cè)器用的主放大器和電荷靈敏前置放大器,也適用于閃爍探測(cè)器用的主放大器。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了點(diǎn)型感煙火災(zāi)探測(cè)器的一般要求、要求和試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則和標(biāo)志。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于一般工業(yè)與民用建筑中安裝的使用散射光、透射光工作原理的點(diǎn)型光電感煙火災(zāi)探測(cè)器。其他環(huán)境中安裝的或使用其他工作原理的點(diǎn)型感煙火災(zāi)探測(cè)器,除特殊技術(shù)要求應(yīng)由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另行規(guī)定外,亦應(yīng)執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 4835的本部分適用于測(cè)量由外部β、X和γ輻射產(chǎn)生的周圍劑量當(dāng)量(率)和/或定向劑量當(dāng)量(率)的劑量當(dāng)量(率)儀和/或監(jiān)測(cè)儀(按ICRU 47號(hào)報(bào)告的建議)、本部分僅適用于在工作場(chǎng)所和環(huán)境中使用的便攜式測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀、本部分適用于測(cè)量由外部β和/或X以及γ輻射產(chǎn)生的劑量當(dāng)量或劑量當(dāng)量率的儀器,劑量范圍為0.01 μSv~10 Sv,劑量率范圍為0.01 μSv 、 h<上標(biāo)-1>~10 Sv 、h<上標(biāo)-1> ,表1給出了能量范圍、所有能量值是主要?jiǎng)┝苛康钠骄芰俊?/p>
GB/T 4937的本部分是為了測(cè)定半導(dǎo)體器件在中子環(huán)境中性能退化的敏感性。本部分適用于集成電路和半導(dǎo)體分立器件。中子輻照主要針對(duì)軍事或空間相關(guān)的應(yīng)用,是一種破壞性試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康娜缦拢篴) 檢測(cè)和測(cè)量半導(dǎo)體器件關(guān)鍵參數(shù)的退化與中子注量的關(guān)系;b) 確定規(guī)定的半導(dǎo)體器件參數(shù)在接受規(guī)定水平的中子注量輻射之后是否在規(guī)定的極限值之內(nèi)(見第4章)。
GB/T 4937的本部分對(duì)已封裝的半導(dǎo)體集成電路和半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行<上標(biāo)60>Co γ射線源電離輻射總劑量試驗(yàn)提供了一種試驗(yàn)程序。本部分提供了評(píng)估低劑量率電離輻射對(duì)器件作用的加速退火試驗(yàn)方法。這種退火試驗(yàn)對(duì)低劑量率輻射或者器件在某些應(yīng)用情況下表現(xiàn)出時(shí)變效應(yīng)的應(yīng)用情形是比較重要的。本部分僅適用于穩(wěn)態(tài)輻照,并不適用于脈沖型輻照。本部分主要針對(duì)軍事或空間相關(guān)的應(yīng)用。本試驗(yàn)可能會(huì)導(dǎo)致輻照器件的電性能產(chǎn)生嚴(yán)重退化,因而被認(rèn)為是破壞性試驗(yàn)。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了放射性核素領(lǐng)域有關(guān)的術(shù)語(yǔ)及定義。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于放射性核素領(lǐng)域內(nèi)編寫標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)文件、翻譯文獻(xiàn)及國(guó)內(nèi)交流等。
GB/T 4960的本部分規(guī)定了核輻射探測(cè)器、通用核儀器、核設(shè)施儀表和控制、輻射防護(hù)儀器及核輻射應(yīng)用儀器等核儀器的基本術(shù)語(yǔ)和定義。本部分適用于有關(guān)核儀器標(biāo)準(zhǔn)、合同、報(bào)告和技術(shù)規(guī)格書等技術(shù)文件的編寫,文獻(xiàn)翻譯以及技術(shù)交流等。
本規(guī)定適用于加速粒子的單核能量低于100MeV的粒子加速器(不包括醫(yī)療用加速器和象密封型中子管之類的可移動(dòng)加速器)設(shè)施。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了帶電粒子半導(dǎo)體探測(cè)器的電特性和核輻射性能的測(cè)量方法以及某些特殊環(huán)境的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶電粒子部分耗盡層的半導(dǎo)體探測(cè)器。全耗盡型半導(dǎo)體探測(cè)器的測(cè)量可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于直接測(cè)量或直接探測(cè)發(fā)射a和/或β核素的表面污染測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀,其至少包括: —探測(cè)裝置(包括計(jì)數(shù)管、閃爍探測(cè)器或半導(dǎo)體探測(cè)器等),它可以固定連接或由軟電纜連接,或者組成一單獨(dú)的裝置; —測(cè)量裝置 一些測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀由探測(cè)裝置和測(cè)量裝置組成,在能將探測(cè)裝置與儀器分開的情況下,可單獨(dú)使用探測(cè)裝置。為了滿足本標(biāo)準(zhǔn),要求所有包括探測(cè)裝置和測(cè)量裝置的儀器符合本標(biāo)準(zhǔn)要求,或探測(cè)裝置和測(cè)量裝置分別符合本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)部分要求 注:對(duì)于后一種使用方式經(jīng)證明符合本標(biāo)準(zhǔn)的要求,但是不能就此推斷其他特殊儀器的組合配置也符合標(biāo)準(zhǔn)。后一種使用方式,允許用戶使用不同制造廠生產(chǎn)的裝置進(jìn)行組合配置 本標(biāo)準(zhǔn)適用于: —a表面污染測(cè)量?jī)x; —a表面污染監(jiān)測(cè)儀; —β表面污染測(cè)量?jī)x; —β表面污染監(jiān)測(cè)儀; —a/β表面污染測(cè)量?jī)x; —a/β表面污染監(jiān)測(cè)儀。 后兩種設(shè)備能夠同時(shí)確定a和β污染,并分別顯示測(cè)量結(jié)果: —a(β,a/β)表面污染測(cè)量?jī)x:包括一個(gè)或多個(gè)輻射探測(cè)器和相關(guān)裝置或基本功能單元。在檢查表面污染時(shí),用來測(cè)量a(β、a/β)表面發(fā)射率; —a(β,a/β)表面污染監(jiān)測(cè)儀。 本標(biāo)準(zhǔn)也適用于那些有特殊用途的儀器和為測(cè)量特殊性質(zhì)表面而設(shè)計(jì)的儀器。但標(biāo)準(zhǔn)的某些要求需根據(jù)這些儀器的特殊要求進(jìn)行修改或補(bǔ)充 如果一個(gè)儀器能實(shí)現(xiàn)多種功能,則儀器需滿足這些不同功能的所有要求。如果儀器以一種功能為主,兼有其他功能,則儀器需滿足主要功能的所有要求,并盡可能滿足其他功能的要求。 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于測(cè)量或探測(cè)大能量小于60 keV β粒子的輻射監(jiān)測(cè)儀或測(cè)量?jī)x 本標(biāo)準(zhǔn)的目的是規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)要求和給出一些適用方法的實(shí)例,還規(guī)定了一般特性、一般試驗(yàn)條件和方法、輻射特性、電氣安全、環(huán)境特性以及a、β及a/β污染測(cè)量?jī)x和監(jiān)測(cè)儀的合格證書
GB/T 5464的本部分規(guī)定了電氣設(shè)備用圖形符號(hào)及其名稱、含義和應(yīng)用范圍。本部分的圖形符號(hào)適用于以下用途:——標(biāo)識(shí)設(shè)備或其組成部分(如控制器或顯示器);——指示功能狀態(tài)或功能(如開、關(guān)、告警);——標(biāo)示連接(如端子、接頭);——提供包裝信息(如包裝物的標(biāo)識(shí)、裝卸說明);——提供設(shè)備的操作說明(如使用限制)。本部分的圖形符號(hào)不適用于以下用途。——安全標(biāo)記;——公共信息;——圖樣的簡(jiǎn)圖;——產(chǎn)品技術(shù)文件。
本文件規(guī)定了用于核反應(yīng)堆的輻射探測(cè)器的特性及測(cè)試方法。本文件所述用于核反應(yīng)堆的輻射探測(cè)器均屬于氣體電離輻射探測(cè)器,其工作介質(zhì)為氣體。本文件適用于核反應(yīng)堆堆外核測(cè)系統(tǒng)中使用的中子正比計(jì)數(shù)管(BF<下標(biāo)3>計(jì)數(shù)管、<上標(biāo)3>He計(jì)數(shù)管、涂硼計(jì)數(shù)管)、裂變電離室(工作在脈沖模式下、工作在均方電壓模式下、工作在電流模式下)、涂硼電離室(含γ補(bǔ)償電離室、無補(bǔ)償涂硼電離室),也適用于核反應(yīng)堆堆芯測(cè)量系統(tǒng)中使用的移動(dòng)式微型裂變電離室。其他應(yīng)用場(chǎng)合下的同類型探測(cè)器可參考使用。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍺γ射線探測(cè)器的性能測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于高純鍺γ射線探測(cè)器的性能測(cè)試,也適用于高純鍺X射線探測(cè)器和鍺(鋰)探測(cè)器的性能測(cè)試。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高活度鈷60密封放射源的結(jié)構(gòu)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、檢驗(yàn)證書和使用說明書、包裝、運(yùn)輸和貯存等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于放射性活度(以下簡(jiǎn)稱活度)大于10 TBq的遠(yuǎn)距離治療用鈷60γ源、工業(yè)輻照用鈷60γ源,也適用于γ刀治療用鈷60γ源、探傷用鈷60γ源以及其他用途的活度大于10 TBq的鈷60γ源。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了傳感器的產(chǎn)品名稱和性能特性術(shù)語(yǔ)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于傳感器的生產(chǎn)、科學(xué)研究、教學(xué)以及其他有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域。