芯片檢測

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GB/T 2036-1994印制電路術(shù)語

本標準規(guī)定了印制電路技術(shù)的常用術(shù)語及其定義。 本標準適用于印制電路用基材、印制電路設計與制造、檢測與印制板裝聯(lián)及有關領域。

GB/T 2424.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗T:錫焊試驗導則

GB/T 2424的本部分參考GB/T 2423.28-2005，GB/T 2423.32-2008和IEC 60068-2-58:1989，為規(guī)范編寫者提供背景資料和建議。

GB/T 2900.32-1994電工術(shù)語 電力半導體器件

本標準規(guī)定了電力半導體器件的專用術(shù)語。 本標準適用于制訂標準、編訂技術(shù)文件、編寫和翻譯手冊、教材及書刊。

GB/T 2900.33-2004電工術(shù)語 電力電子技術(shù)

GB／T 2900的本部分規(guī)定了電力電子技術(shù)領域的術(shù)語及其定義，適用于電力電子技術(shù)的標準、書刊、文獻、資料和技術(shù)活動。

GB/T 2900.39-2009電工術(shù)語.電機、變壓器專用設備

GB/T 2900的本部分規(guī)定了電機和變壓器專用設備的術(shù)語和定義。本部分適用于與電機和變壓器專用設備相關的技術(shù)領域。

GB/T 2900.66-2004電工術(shù)語 半導體器件和集成電路

GB／T 2900的本部分界定了半導體技術(shù)、半導體設計和半導體類型的通用術(shù)語。

GB/T 3859.1-2013半導體變流器 通用要求和電網(wǎng)換相變流器 第1-1部分：基本要求規(guī)范

GBT 3859的本部分規(guī)定了使用可控和(或)不可控電子閥器件的所有半導體電力變流器和半導體電力開關的性能。電子閥器件主要有半導體器件,包括不可控器件(即整流二極管)和可控器件(即各種晶閘管和功率晶體管)。可控器件可反向阻斷或反向?qū)?可借助電流、電壓或光控制。假設非雙穩(wěn)器件在開關狀態(tài)下工作。本部分主要從總體上規(guī)定對變流器的基本要求,以及適用于把交流電變換為直流電或把直流電變換為交流電的電網(wǎng)換相變流器的要求。假如其他類型的電力電子變流器尚無產(chǎn)品標準,本部分的內(nèi)容也適用。這些特定的要求適用于進行功率變換、換相(例如:半導體自換相變流器)或特殊用途(例如:直流電動機傳動用半導體變流器 )的半導體電力變流器,或已知特性的組合(例如:電傳動機車車輛用直接直流變流器)。本部分適用于未被專用產(chǎn)品標準涵蓋或特殊性能未被專用產(chǎn)品標準涵蓋的所有電力變流器。電力變流器的專用產(chǎn)品標準應參考本部分。

GB/T 3859.4-2004半導體變流器 包括直接直流變流器的半導體自換相變流器

本部分適用于電力變流器中至少有一部分是自換相型的所有類型半導體自換相變流器。例如：交流變流器，間接直流變流器，直接直流變流器。 GB／T 3859．1中的要求，只要不與本部分相矛盾，也同樣適用于自換相變流器。對于某些特殊應用，如不間斷電源設備(UPS)，交、直流調(diào)速傳動和電氣牽引設備，可使用另外的標準。 注：試驗限制可適用于特殊應用，如大功率無功變流器。

GB/T 3917.2-2009紡織品.織物撕破性能.第2部分:褲形試樣(單縫)撕破強力的測定

GB/T 3917的本部分規(guī)定了用單縫隙褲形試樣法測定織物撕破強力的方法。在撕破強力的方向上測量織物從初始的單縫隙切口撕裂到規(guī)定長度所需要的力。本部分主要適用于機織物，也可適用于其他技術(shù)方法制造的織物，如非織造布等。本部分不適用于針織物、機織彈性織物以及有可能產(chǎn)生撕裂轉(zhuǎn)移的稀疏織物和具有較高各向異性的織物。本部分規(guī)定使用等速伸長（CRE）試驗儀。

GB/T 3917.4-2009紡織品.織物撕破性能.第4部分:舌形試樣(雙縫)撕破強力的測定

GB/T 3917的本部分規(guī)定了用雙縫隙舌形試樣法測定織物撕破強力的方法。在撕破強力的方向上測量織物從初始的雙縫隙切口撕裂到規(guī)定長度所需要的力。本部分主要適用于機織物，也可適用于其他技術(shù)方法制造的織物，如非織造布等。本部分不適用于針織物、機織彈性織物。本部分規(guī)定使用等速伸長（CRE）試驗儀。

GB/T 3917.5-2009紡織品.織物撕破性能.第5部分:翼形試樣(單縫)撕破強力的測定

GB/T 3917的本部分規(guī)定了用單縫隙翼形試樣法測定織物撕破強力的方法。將具有兩翼的試樣，按與紗線成規(guī)定的角度夾持，測量由初始切口擴展而產(chǎn)生的撕破強力。本部分主要適用于機織物，也可適用于一些其他技術(shù)生產(chǎn)的織物，試驗時由于夾持試樣的兩翼傾斜于被撕裂紗線的方向，所以試驗過程中多數(shù)織物不會產(chǎn)生力的轉(zhuǎn)移，而且與其他撕破方法相比，本方法更不容易發(fā)生紗線脫落。本部分不適用于針織物、機織彈性織物及非織類產(chǎn)品，這類織物一般用梯形法進行測試。本部分規(guī)定使用等速伸長（CRE）試驗儀。

GB/T 4023-2015半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管

本部分給出下列各類或各分類器件的標準：整流二極管包括：——雪崩整流二極管；——可控雪崩整流二極管；——快開關整流二極管。

GB/T 4475-1995敏感元器件術(shù)語

本標準規(guī)定了敏感元器件的術(shù)語及定義，包括熱（溫）敏、光敏、壓敏、濕敏、氣敏、磁敏、力敏、離子敏、生物敏、放射線敏和纖維光學敏感元器件11個部分。 本標準適用于敏感元器件的生產(chǎn)、使用、科研和教學等方面，作為統(tǒng)一技術(shù)用語的依據(jù)。

GB/T 4589.1-2006半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范

本規(guī)范構(gòu)成電工委員會電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ）的一部分。 本規(guī)范是半導體器件（分立器件和集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路）的總規(guī)范。 本規(guī)范規(guī)定了在IECQ體系內(nèi)采用的質(zhì)量評定的總程序，并給出了下述方面的總原則： ——電特性測試方法； ——氣候和機械試驗； ——耐久性試驗。

GB/T 4937.1-2006半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分:總則

本部分適用于半導體器件（分立器件和集成電路）并為GB/T 4937系列的其他部分建立通用準則。 當本部分與相應的詳細規(guī)范有矛盾時，以詳細規(guī)范為準。

GB/T 4937.2-2006半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓

本部分適用于半導體器件的低氣壓試驗。本項試驗的目的是測定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時，空氣和其他絕緣材料的絕緣強度減弱所造成的。本項試驗僅適用于工作電壓超過100OV 的器件。 本項試驗適用于所有的空封半導體器件。本試驗僅適用于軍事和空間領域。 本項低氣壓試驗方法和IEC60068-2-13大體上一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，使用本部分條款。

GB/T 4937.3-2012半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分：外部目檢

GB/T 4937的本部分的目的是驗證半導體器件的材料、設計、結(jié)構(gòu)、標志和工藝質(zhì)量是否符合適用的采購文件的要求。外部目檢是非破壞性試驗，適用于所有的封裝類型。本試驗用于鑒定檢驗、過程監(jiān)控、批接收。

GB/T 4937.4-2012半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST）

GB/T 4937的本部分過電流強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST）方法，用于評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。

GB/T 4937.11-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分:快速溫度變化 雙液槽法

GB/T 4937的本部分規(guī)定了快速溫度變化——雙液槽法的試驗方法。當器件鑒定既可以采用空氣-空氣溫度循環(huán)又可以采用快速溫度變化——雙液槽法試驗時，優(yōu)先采用空氣-空氣溫度循環(huán)試驗。本試驗也可采用少量循環(huán)(5次~10次)的方式來模擬清洗器件的加熱液體對器件的影響。本試驗適用于所有的半導體器件。除非在有關規(guī)范中另有說明，本試驗被認為是破壞性的。本試驗與GB/T 2423.22-2002基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。

GB/T 4937.12-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分:掃頻振動

GB/T 4937的本部分的目的是測定在規(guī)定頻率范圍內(nèi)，振動對器件的影響。本試驗是破壞性試驗，通常用于有空腔的器件。本試驗與GB/T 2423.10-2008基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。