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本標準規定了光學基本術語,幾何光學、物理光學、像質評定、光學零部件及工藝、光學儀器名稱、光學測量及產品技術要求等方面的術語共1028條。 本標準適用于光學儀器標準制定、技術文件編制、教材和書刊編寫及文獻翻譯等。
GB/T 16462的本部分根據GB/T 17421.1和ISO 230-7規定了一般用途的數控立式車床和立式車削中心的幾何精度檢驗要求和方法及相應的公差。本部分解釋了數控立式車床和立式車削中心的不同概念、不同配置及通用特點,并提供了控制軸的術語和定義(見圖1、圖2、圖3、圖4)。本部分適用于機床的精度檢驗。本部分不適用于機床的運轉檢驗(如機床的振動、異常的噪聲、部件的爬行等檢驗)及機床的特性檢驗(如速度、進給量),因為這些檢驗通常在精度檢驗之前進行。
GB/T 16462的本部分根據GB/T 17421.1和ISO 230-7規定了一般用途的倒置數控立式車床和倒置立式車削中心的幾何精度檢驗要求和方法及其相應的公差。本部分解釋了倒置數控立式車床和倒置立式車削中心的不同概念、不同配置和通用特點,并給出了控制軸線的術語和定義(見圖1、圖2、圖3和圖4)。本部分適用于機床的精度檢驗。本部分不適用于機床的運轉檢驗(如機床的振動、異常的噪聲、運動部件的爬行等檢驗)及機床的特性檢驗(如速度、進給量),因為這些檢驗通常在精度檢驗前進行。
GB/T 17421的本部分規定了三種熱變形檢驗,即: ——環境溫度變化誤差(ETVE)檢驗; ——由主軸旋轉引起的熱變形檢驗; 一由線性軸移動引起的熱變形檢驗。 由線性軸移動引起的熱變形檢驗(見第7章)僅適用于數控機床,并用來量化軸線的熱膨脹及收縮對定位精度和重復定位精度的影響程度。由于實際原因,在第7章描述的檢驗方法適用于線性軸線行程至2 000 mm的機床,如果用于軸線行程大于2 000 mm的機床,那么在每個軸的正常工作范圍內選定一個有代表的2 000 mm長度來進行檢驗。 應當注意,對于本部分所描述的檢驗沒有給出具體的公差值。
GB/T 18400的本部分規定了立式(即垂直Z軸)加工中心的幾何精度檢驗。本部分適用于基本上具有三個數控軸線,即三個線性軸線(X、Y、Z)至2000mm的立式加工中心,也適用于滑枕、套筒或萬能主軸頭的附加運動。本部分僅適用于機床的幾何精度檢驗,不適用于機床的運動精度檢驗。
本部分規定了精密立式加工中心(即:垂直Z軸)的幾何精度檢驗的要求及方法。 本部分適用于基本上具有三個數控軸線,即三個線性軸線(X、Y和Z)至2 000 mm的精密立式加工中心,也適用于滑枕、套筒或萬能主軸頭的附加運動,如:回轉軸線(A′、B′和C′)。 本部分在附錄中列出了可能的附加任選水平軸和兩種附加萬能主軸頭的檢驗項目: ——附錄A:任選水平軸(檢驗項目AGl~AG6); ——附錄B:回轉搖擺主軸頭,具有一個數控回轉軸線(檢驗項目BGl~BG2); ——附錄C:回轉主軸頭,具有相互垂直的兩數控回轉軸線(檢驗項目CGl~CG7)。 線性軸線行程大于2 000 mm的精密立式加工中心也可參照使用。
本標準規定了精密加工中心制造和驗收的要求。本標準適用于線性軸線行程至2 000 mm的精密加工中心。線性軸線行程超過2 000 mm的精密加工中心也可參照使用。
GB/T 33149的本部分規定了數控重型單柱移動式立式銑車床檢驗和驗收的要求。本部分適用于大車削直徑不小于10 000 mm的數控重型單柱移動式立式銑車床。
GB/T 34880的本部分規定了五軸聯動立式加工中心的幾何精度、定位精度和重復定位精度、工作精度的檢驗要求、檢驗方法以及相應的公差。本部分適用于線性軸線行程至2 000 mm的五軸聯動立式加工中心(以下簡稱機床)。
GB/T 34880的本部分規定了五軸聯動加工中心的設計、制造、檢驗和驗收要求。本部分適用于線性行程至2 000 mm的五軸聯動加工中心(以下簡稱機床)。線性軸線行程超過2 000 mm的五軸聯動加工中心也可參照使用。
本規范適用于測長儀的校準。
本規范適用于分辨力為0.005mm、0.01mm,測量范圍(0~2000)mm各種規格的容柵數顯標尺的校準。
本規范適用于測量模數不小于0.3 mm,3級及以下精度等級齒輪的齒輪測量中心的校準。
本標準規定了半尋體集成電路制造工序主要生產設備的有關術語及定義。 本標準適用于半導體集成電路制造工序主要生產設備的研究、生產、使用、檢驗、教學和技術交流。
本標準規定了衛生行業醫療器械、儀器設備(商品、物資)的分類與代碼。 本標準適用于衛生行業各醫療、教學、科學研究和生物制品等單位對物資管理、計劃、統計及會計業務等使用。
本規程適用于分度值為0.Olmm,測量上限至500mm的外徑千分尺;測量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺;以及分辨力為0.OOlmm,0.0001mm,測量上限至500mm的數顯外徑千分尺的首次檢定、后續檢定和使用中檢驗。
本規程適用于高等別線紋尺的首次檢定、后續檢定和使用中檢驗。
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