工業氟化鋇檢測

工業氟化鋇檢測項目報價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

點 擊 解 答??

GB/T 13181-2002閃爍體性能測量方法

本標準規定了閃爍體的光輸出、相對能量轉換效率、固有幅度分辨率、閃爍有效衰減長度、發射光譜、閃爍衰減時間以及它們的溫度效應的測量方法等內容。 本標準適用于常用的各種閃爍體的性能檢測。

GB/T 23807-2009精細陶瓷分類系統

本標準規定了精細陶瓷的分類。該系統包括陶瓷粉料前驅體、粉末、陶粒、纖維、晶須、片晶、單晶、多晶、非晶態(玻璃)材料，及復合材料、陶瓷薄膜、涂層。該分類系統將構成標準的核心。分類系統不包含以下：a 碳材料，除某些特殊陶瓷如金剛石、玻璃碳或者化學氣相沉積石墨以外；b 硅材料，鍺元素以及其他半金屬材料，但它們作為精細陶瓷組成或前驅體時除外；c 粘土類傳統陶瓷，包括：1 日用陶器(餐具等日用精細陶瓷制品)；2 建筑衛生陶瓷；3 墻體材料；d 定形的和不定形的耐火材料。本標準適用于精細陶瓷的分類。本標準不適用于硬質合金產品或者主要成分為玻璃的制品，但可以參照采用。本標準不是為了強制規范該分類系統如何使用，而是提供一個靈活框架和一個推薦性的可操作的編碼系統，使用人員可以根據陶瓷產品信息編訂編碼。

GB/T 37398-2019氟化鋇閃爍晶體

本標準規定了氟化鋇閃爍晶體的產品性狀、技術要求、試驗方法、檢驗規則以及標志、包裝、運輸、貯存和隨行文件。本標準適用于直徑不大于140 mm且長度不大于150 mm的氟化鋇閃爍晶體的生產、使用和驗收。

HG/T 4499-2013工業氟化鋇

本標準規定了工業氟化鋇的要求、試驗方法、檢驗規則、標志、標簽、包裝、運輸和貯存。本標準適用于工業氟化鋇。主要用于制造電機電刷、光學玻璃、光導纖維、激光發生器、助熔劑、涂料和琺瑯,也可用作木材防腐劑和殺蟲劑,也可用于電解鋁行業添加劑和金屬熱處理助劑。

QJ 20706-2018航天小口徑光學產品超精密研磨拋光工藝技術要求

本標準規定了航天小口徑光學產品超精密研磨拋光的一般要求、工藝過程及安全環保要求等。本標準適用于口徑小于Φ150 mm的平面、球面光學產品(以下簡稱產品)的超精密研磨拋光。

SJ 20744-1999半導體材料雜質含量紅外吸收光譜分析通用導則

本標準規定了半導體材料中雜質含量的紅外吸收分析方法的術語、基本原理、儀器設備、樣品制備、測量條件、測量步驟和測量結果的計算。 本標準適用于在紅外光譜區為透明的并在該區域產生雜質吸收帶的任何半導體單晶材料紅外分析方法。

JB/T 9495.1-2015光學晶體 第1部分:技術條件

JB/T 9495的本部分規定了光學晶體的術語和定義、產品品種和標記、要求、測量方法、檢驗規則及標志、包裝、保管。本部分適用于制作透射、折射、反射光學元件的直徑不大于300 mm的人工光學晶體。

BS EN 14232-2009高級工業陶瓷.術語、定義和縮寫

This document is a vocabulary which provides a list of terms and associated definitions which aretypically used for advanced technical ceramic materials, products, applications, propertiesand processes. The document contains, in separate lists, those abbreviations which have foundgeneral acceptance in scientific and technical literature; they are given together with thecorresponding terms and definitions or descriptions.NOTE 1 This document does not include terms which, though used in the field of advanced technicalceramics, are of a more general nature and are also well known in other fields of technology.NOTE 2 A list of some European Standards, European Prestandards and Draft European Standards of CENTechnical Committee 184 “Advanced technical ceramics” containing terms defined in this document, is given in the Bibliography.