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纖維光學(xué)衰減器檢測項目報價???解決方案???檢測周期???樣品要求? |
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本規(guī)范適用于各種類型、尺寸和結(jié)構(gòu)的光纖光纜用整套連接器和各個單獨器件(例如轉(zhuǎn)接器、插頭、插座)。其中包括: ——整套連接器的要求; ——質(zhì)量評定程序; ——整套連接器和各個單獨器件(例如轉(zhuǎn)接器、插頭和插座)的測量和試驗程序。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于纖維光學(xué)衰減器,包括在標(biāo)準(zhǔn)公布時被采用并被認(rèn)為適用的標(biāo)準(zhǔn)的光學(xué)、機(jī)械和環(huán)境試驗與測量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于纖維光學(xué)領(lǐng)域中采用的具有下列特性的纖維光學(xué)隔離器門類: --為非互易性光器件; --為無源器件,不含有光電或其他變換元件; --具有定向傳輸光信號的兩個端口,端口通常為光纖連接器或光窗口; --為波長敏感性器件。 本標(biāo)準(zhǔn)旨在對下列內(nèi)容確立統(tǒng)一要求: --光學(xué)、機(jī)械和環(huán)境特性或性能參數(shù); --分類; --質(zhì)量評定程序; --試驗和測量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于光纖和光纜接頭構(gòu)件(對中零件、保護(hù)零件等)和接頭配件(集纖盤、接頭盒等)。它包括: ——對光纖光纜接頭構(gòu)件的要求; ——對光纖光纜接頭配件的要求; ——用于鑒定批準(zhǔn)和質(zhì)量評定的測量與試驗程序。
本測量旨在確定單模纖維光學(xué)器件回波損耗對通過這一器件的光偏振狀態(tài)(SOP)的依賴性。回波損耗為總的反射功率與來自光纖線路或系統(tǒng)的入射功率之比的絕對值,以dB為單位。由于器件的光偏振狀態(tài)通常是不確定的,事實上常隨時間變化,因此具有偏振依賴性的器件將在系統(tǒng)中產(chǎn)生變化的回波損耗。本方法可適用于包括衰減器、隔離器、耦合器、開關(guān)、連接器和接頭在內(nèi)的任何單模纖維光學(xué)無源器件和互連器件。
GB/T 16850的本部分規(guī)定了測量光纖放大器(OFA)模擬參數(shù)-增益斜率的試驗方法,確定了對OFA增益斜率參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠測量的統(tǒng)一要求。 本部分適用于對使用稀土元素?fù)诫s有源光纖的OFA的測量。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測量光纖放大器(OFA)反射功率參數(shù)的試驗方法,確定了對OFA反射功率參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠測量的統(tǒng)一要求。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于對使用稀土元素?fù)诫s有源光纖的OFA的測量。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測量光纖放大器(OFA)泵浦泄漏功率參數(shù)的試驗方法,確定了對OFA泵浦泄漏功率參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠測量的統(tǒng)一要求。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于對使用稀土元素?fù)诫s有源光纖的OFA的測量。
GB/T 18309系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一系列環(huán)境試驗程序和測量程序,并給出了某些場合為評定纖維光學(xué)互連器件和無源器件在預(yù)期工作條件下工作的能力而設(shè)定的優(yōu)先嚴(yán)酷等級。GB/T 18309系列標(biāo)準(zhǔn)除應(yīng)用于這一范圍外,還可用于需要的其他領(lǐng)域。 本標(biāo)準(zhǔn)與詳細(xì)規(guī)范一起使用。詳細(xì)規(guī)范中將規(guī)定所采用的試驗及每項試驗中所需的嚴(yán)酷等級、試驗順序,如適用,并提供允許的性能極限值。在本標(biāo)準(zhǔn)與詳細(xì)規(guī)范出現(xiàn)矛盾時,應(yīng)以詳細(xì)規(guī)范中規(guī)定為準(zhǔn)。
本標(biāo)準(zhǔn)的目的是確保整套連接器或連接器與器件組合的鎖緊機(jī)構(gòu)能承受其正常使用中可能遇到的軸向拉力。
本標(biāo)準(zhǔn)旨在測定單模纖維光學(xué)器件對于偏振態(tài)變化的依賴性。本測量可適用于任何單模互連器件和無源器件,包括連接器、接頭、耦合器、衰減器、隔離器和開關(guān)。本方法用于測量由于注入偏振態(tài)變化導(dǎo)致的總衰減范圍。對分路器,本方法也可用于測量總耦和比范圍。 本方法不能用于測量回波損耗的偏振依賴性。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了當(dāng)器件經(jīng)受環(huán)境試驗(基本試驗)時測量它衰減變化和回波損耗變化的程序。因為通常這類試驗在某些時間周期內(nèi)對一組器件進(jìn)行試驗,所以就將這種測量程序和相關(guān)的設(shè)備設(shè)計為在同一程序中對許多器件進(jìn)行監(jiān)測并采用自動數(shù)據(jù)采集裝置。而且,由于器件衰減變化和回波損耗變化可能很小,而系統(tǒng)中這些器件的性能又很重要,因此強(qiáng)調(diào)本測量程序應(yīng)始終保持測量的高穩(wěn)定性。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了被試?yán)w維光學(xué)器件回波損耗測量程序。 通過采用低光學(xué)相干干涉方法以微米級的空間分辨率和高動態(tài)范圍測量單模光器件的反射分布。 通過采用光頻域反射方法,以厘米級的空間分辨率和高動態(tài)范圍測量單摸器件的回波損耗。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了精細(xì)陶瓷的分類。該系統(tǒng)包括陶瓷粉料前驅(qū)體、粉末、陶粒、纖維、晶須、片晶、單晶、多晶、非晶態(tài)(玻璃)材料,及復(fù)合材料、陶瓷薄膜、涂層。該分類系統(tǒng)將構(gòu)成標(biāo)準(zhǔn)的核心。分類系統(tǒng)不包含以下:a 碳材料,除某些特殊陶瓷如金剛石、玻璃碳或者化學(xué)氣相沉積石墨以外;b 硅材料,鍺元素以及其他半金屬材料,但它們作為精細(xì)陶瓷組成或前驅(qū)體時除外;c 粘土類傳統(tǒng)陶瓷,包括:1 日用陶器(餐具等日用精細(xì)陶瓷制品);2 建筑衛(wèi)生陶瓷;3 墻體材料;d 定形的和不定形的耐火材料。本標(biāo)準(zhǔn)適用于精細(xì)陶瓷的分類。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于硬質(zhì)合金產(chǎn)品或者主要成分為玻璃的制品,但可以參照采用。本標(biāo)準(zhǔn)不是為了強(qiáng)制規(guī)范該分類系統(tǒng)如何使用,而是提供一個靈活框架和一個推薦性的可操作的編碼系統(tǒng),使用人員可以根據(jù)陶瓷產(chǎn)品信息編訂編碼。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通信用光電探測器組件相關(guān)參數(shù)的測試方法,包括光學(xué)參數(shù)、電參數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于通信用光電探測器組件。
本規(guī)范適用于光纖器件生產(chǎn)廠新建、擴(kuò)建和改建的工藝設(shè)計。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有線電視系統(tǒng)模擬光纖放大器的技術(shù)要求和測量方法。對于能夠確保同樣測量不確定度的任何等效測量方法也可采用。有爭議時,應(yīng)以本標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于有線電視系統(tǒng)模擬光纖放大器及由其組成的光鏈路系統(tǒng)。
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