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納米薄膜檢測
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納米薄膜檢測

發布日期: 2024-06-21 17:34:53 - 更新時間:2024年06月29日 15:22

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  市場監督管理總局、中國標準化管理委員會,關于納米 薄膜 儀的標準

  GB/T 36969-2018 納米技術 原子力顯微術測定納米薄膜厚度的方法

  中華人民共和國質量監督檢驗檢疫總局、中國標準化管理委員會,關于納米 薄膜 儀的標準

  GB/T 33826-2017 玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法

  質檢總局,關于納米 薄膜 儀的標準

  GB/T 30447-2013 納米薄膜接觸角測量方法

  GB/T 25898-2010 儀器化納米壓入試驗方法 薄膜的壓入硬度和彈性模量

  GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜.元素深度分布的定量測定.輝光放電原子發射光譜法

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  PNST 60-2015 高分子共擠壓薄膜改性納米復合材料通用規格

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  GOST R 8.698-2010 確保測量一致性的體系.納米粒子和薄膜的空間參數.利用小角度X-射線散射衍射儀的測量方法

  英國標準學會,關于納米 薄膜 儀的標準

  BS PD IEC/TS 62607-5-1-2014 納米制造. 關鍵控制特性. 有機薄膜/納米電子器件. 載波傳輸測量

  電工委員會,關于納米 薄膜 儀的標準

  IEC/TS 62607-5-1-2014 納米制造.關鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機/納米電子設備.載體運輸測量

  德國標準化學會,關于納米 薄膜 儀的標準

  DIN IEC/TS 62607-5-1-2014 納米加工.關鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機/納米電子設備.載體運輸測量(IEC 113/183/CD-2013)

  美國通用公司(),關于納米 薄膜 儀的標準

  GMW GMW16170-2011 薄膜.納米厚度(NT)的預處理一般質量要求.第2次出版(英文版本)

  美國通用公司(北美),關于納米 薄膜 儀的標準

  GM 9986321-2008 薄膜.納米厚度(NT)預處理通用質量標準

  韓國標準,關于納米 薄膜 儀的標準

  KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣

  KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣

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